供应数显薄膜测厚仪，测厚仪

BMH-J3 数显薄膜测厚仪
仪器名称: 数显薄膜测厚仪,薄膜测厚仪,数显测厚仪,测厚仪,厚度仪,薄膜厚度测定仪,厚度测定仪,数字厚度仪,厚度测试仪,厚度试验仪
产品用途:数显薄膜测厚仪主要用于测定薄膜、薄片等材料的厚度,测量范围宽、测量精度高,具有数据输出、任意位置置零、公英制转换、自动断电等特点。
技术指标: 
1.测量范围:(0-25)mm
2.分辨率:0.001mm 
3.电源:氧化银电池SR44       
4.工作温度:0℃~+40℃        
5.储运温度:-20~+70℃
6.相对湿度:≤80%
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